Con una densidad de transistores y una eficiencia energética que aumentan drásticamente, el número de E/S se está convirtiendo en el factor limitante de las matrices en la fabricación de obleas. La industria de semiconductores está trabajando en diferentes soluciones para superar la necesidad de seguir reduciendo los tamaños de pad y pitch para aumentar el número de E/S. Por ejemplo, en el lado del back-end, la Unión Híbrida permite ahora la interconexión directa de pad a pad en chiplets y se ha convertido en una de las técnicas más importantes para seguir mejorando el rendimiento de los dispositivos sin reducir aún más el tamaño de los nodos. La arquitectura TELICA, en combinación con conceptos de visión que minimizan la necesidad de movimientos ciegos, ha demostrado su capacidad para cumplir el requisito de precisión local de ±100 nm de Unión Híbrida con un rendimiento de 2 kUPH.
TELICA está disponible con una o dos vigas de pórtico que trabajan en paralelo. Hay dos variantes estándar disponibles: variante 1 para encapsulado sobre obleas (WLP) con recorridos X410 x Y445 x Z30 mm y variante 2 para encapsulado sobre panel (PLP) con recorridos X750 x Y800 x Z30 mm.
TELICA introduce un nuevo enfoque metrológico reduciendo drásticamente los errores de Abbe, así como la disparidad de posición relativa entre la herramienta del proceso y el substrato. Los sistemas de medida multidimensionales garantizan la elevada precisión de posicionamiento mientras que los motores con núcleo de hierro refrigerados por agua permiten ciclos de trabajo extremos.
Unidos a los controladores de vanguardia AccurET de ETEL, la plataforma TELICA se beneficia de múltiples prestaciones de control tales como: tiempo de puesta a cero, control no lineal, pre-control avanzado y filtros de trayectoria, sincronización plena de todos los ejes con jitter de nanosegundos, un algoritmo específico para control de pórtico, mapeado multidimensional, capacidades de disparo avanzadas basadas en posiciones mapeadas reales, programa de diagnóstico avanzado y herramientas de identificación del sistema para optimización del control.